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龚翔薇膜相结构和非膜相结构的区别
膜相结构和非膜相结构是材料力学中常见的两种结构。它们之间的区别在于材料内部的位移方式。膜相结构中,位移主要发生在材料内部的界面面上,而非膜相结构中,位移则发生在材料内部。膜相结构通常指材料的堆叠结构,...
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龚翔薇压痕法测断裂韧性最大数值
纳瑞科技(北京)有限公司(IonBeamTechnologyCo.,Ltd.)成立于2006年,是由在聚焦离子束(扫描离子显微镜)应用技术领域有着多年经验的技术骨干创立而成。压痕法是一种常用的测定材料...
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龚翔薇什么是纳米压痕实验
纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间,增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析,二次电子像,以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...
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龚翔薇静电场测绘结果分析
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龚翔薇扫描电镜图像衬度原理
扫描电镜(SEM)是一种广泛用于研究材料结构和性质的显微镜。它的工作原理是通过扫描探针在样品表面扫描,产生一个高分辨率的图像,以研究样品表面的微小结构和形态。在SEM中,衬度是一种重要的成像参数,决定...
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龚翔薇压痕法测断裂韧性公式
纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间,增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析,二次电子像,以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...
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龚翔薇钙离子探针测荧光强度
钙离子探针是一种广泛应用于荧光成像领域的探针,其通过与钙离子结合而呈现高荧光强度,为研究细胞内钙离子浓度提供了有力的手段。荧光强度是衡量荧光成像效果的重要参数,本文通过对钙离子探针的研究以及荧光成像技...
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龚翔薇FIB测定透射光强度高
纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间,增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析,二次电子像,以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...
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龚翔薇透射光强度百分比
纳瑞科技(北京)有限公司(IonBeamTechnologyCo.,Ltd.)成立于2006年,是由在聚焦离子束(扫描离子显微镜)应用技术领域有着多年经验的技术骨干创立而成。透射光强度百分比是描述材料...
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龚翔薇纳米压痕样品要求
fib芯片提供维修、系统安装、技术升级换代、系统耗材,以及应用开发和培训。纳米压痕样品要求随着纳米技术的快速发展,纳米压痕样品已成为一种重要的评价材料。纳米压痕样品要求是指用于测试和评价纳米材料力学性...
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